Francis, Olivier ; Baumann, Henri ; Ullrich, C. ; Castelein, Stefaan ; Van Camp, Michel ; Andrade de Sousa, M. ; Lima Melhorato, R. ; Li, C. ; Xu, J. ; Su, D. ; Wu, D. ; Hu, H. ; Wu, K. ; Li, G. ; Li, Z. ; Hsieh, W.-C. ; Palinkas, V. ; Kostelecky, J. ; Mäkinen, J. ; Näränen, J. ; Merlet, S. ; Pereira Dos Santos, F. ; Gillot, P. ; Hinderer, Jacques ; Bernard, J.-D. ; Le Moigne, N. ; Fores, B. ; Gitlein, Olga ; Schilling, M. ; Falk, R. ; Wilmes, Herbert ; Germak, A. ; Biolcati, E. ; Origlia, C. ; Lacovone, D. ; Baccaro, F. ; Mizushima, S. ; De Plaen, R. ; Klein, G. ; Seil, M. ; Radinovic, R. ; Sekowski, M. ; Dykowski, P. ; Choi, I.-M. ; Kim, M.-S. ; Borreguero, Ana ; Sainz-Maza, S. ; Calvo, M. ; Engfeldt, A. ; Agren, J. ; Reudink, R. ; Eckl, M. ; van Westrum, Derek ; Billson, R. ; Ellis, B.

published in Metrologia, 52, pp. 07009 (2015)


DOI: 10.1088/0026-1394/52/1A/07009