Vitushkin, L. ; Becker, M. ; Jiang, Z. ; Francis, Olivier ; van Dam, Tonie ; Faller, J. ; Chartier, J.-M. ; Amalvict, Martine ; Bonvalot, S. ; Debeglia, S. ; Desogus, S. ; Diament, Michel ; Dupont, F. ; Falk, R. ; Gabalda, G. ; Gagnon, C.G.L. ; Gattacceca, T. ; Germak, A. ; Hinderer, Jacques ; Jamet, O. ; Jeffries, G. ; Käter, R. ; Kopaev, A. ; Liard, J. ; Lindau, A. ; Longuevergne, L. ; Luck, B. ; Maderal, N. ; Mäkinen, J. ; Meurers, Bruno ; Mizushima, S. ; Mrlina, J. ; Newell, D. ; Origlia, C. ; Pujol, E.R. ; Reinhold, A. ; Richard, Philippe ; Robinson, I. ; Ruess, D. ; Thies, S. ; Van Camp, Michel ; Van Ruymbeke, Michel ; de Villalta Compagni, M.F. ; Williams, Simon D.P.

published in Metrologia, 39, pp. 407-424 (2002)


DOI: 10.1088/0026-1394/39/5/2